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        當前位置：成功案例
         成功案例
  
        
  
        
  	
        
    	
        
                               	半導體
         
            
        
                                                                                                            	
                                                             	
                                                                                                                                            
        
                                                                                                                                    
            
        
        
		
         
        
         	
        半導體芯片
        
            
        應用案例
        
             
            
                
            
        
            	
        應用信息：半導體芯片
        


        客戶要求和問題：半導體芯片外觀不良檢查
        


        解決方案及方案內容：奧林巴斯金相顯微鏡
        


        測試設備： 奧林巴斯金相顯微鏡+相機
        


        1、客戶現場圖片:
        


        


         
        


         
        


         
        


         
        


         
        


         
        


         
        


         
        


         
        


         
        


        2.測試結果：
        


        


         
        


         
        


         
        


         
        


         
        


         
        


         
        


         
        


         
        


         
        


         
        


         
        


         
        


         
        


        暗場，20X物鏡
        

            
        
             
        
                 
                 
                 
                 
                 
                 
             
        
             

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